注冊(cè)測(cè)繪師
篩選結(jié)果 共找出38題

測(cè)繪專(zhuān)業(yè)技術(shù)總結(jié)由四部分組成，其中第四部分為“上交和歸檔測(cè)繪成果及資料清單”。以下選項(xiàng)中，屬于“上交資料清單”的是( )。

  • A

    所有作業(yè)人員身份證復(fù)印件

  • B

    測(cè)區(qū)所在行政區(qū)地圖

  • C

    測(cè)繪成果質(zhì)量檢查報(bào)告

  • D

    測(cè)繪成果(或產(chǎn)品)的名稱(chēng)、數(shù)量、類(lèi)型等

  • E

    其他需上交和歸檔的資料

下列內(nèi)容中，屬于《測(cè)繪技術(shù)總結(jié)編寫(xiě)規(guī)定》(CH/T 1001-2005)的“概述”中主要內(nèi)容的是( )。

  • A

    執(zhí)行的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范

  • B

    任務(wù)來(lái)源、目標(biāo)

  • C

    任務(wù)安排與完成情況

  • D

    工程預(yù)算

  • E

    作業(yè)區(qū)概況和已有資料利用情況

根據(jù)《測(cè)繪技術(shù)總結(jié)編寫(xiě)規(guī)定》，下列內(nèi)容中，屬于測(cè)繪技術(shù)總結(jié)編寫(xiě)主要依據(jù)有(  )。

  • A

    市場(chǎng)的需求或期望

  • B

    測(cè)繪技術(shù)設(shè)計(jì)文件

  • C

    測(cè)繪項(xiàng)目財(cái)務(wù)驗(yàn)收?qǐng)?bào)告

  • D

    測(cè)繪成果質(zhì)量檢查報(bào)告

  • E

    顧客的書(shū)面要求

測(cè)繪技術(shù)總結(jié)編寫(xiě)依據(jù)有( )。

  • A

    技術(shù)設(shè)計(jì)書(shū)

  • B

    內(nèi)容真實(shí)、重點(diǎn)突出

  • C

    有關(guān)法規(guī)和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

  • D

    測(cè)繪任務(wù)合同書(shū)

  • E

    測(cè)繪產(chǎn)品的檢查、驗(yàn)收?qǐng)?bào)告

專(zhuān)業(yè)技術(shù)總結(jié)的主要內(nèi)容中，包括“技術(shù)設(shè)計(jì)執(zhí)行情況”。以下選項(xiàng)中，屬于“技術(shù)設(shè)計(jì)執(zhí)行情況”的是( )。

  • A

    作業(yè)區(qū)已有資料的利用情況

  • B

    生產(chǎn)所依據(jù)的有關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

  • C

    作業(yè)工作量安排及完成情況

  • D

    新技術(shù)和新方法的應(yīng)用情況

  • E

    總結(jié)專(zhuān)業(yè)測(cè)繪生產(chǎn)中的經(jīng)驗(yàn)和教訓(xùn)

工程測(cè)量專(zhuān)業(yè)中“施工測(cè)量”技術(shù)總結(jié)包括以下內(nèi)容( )。

  • A

    利用已有資料情況

  • B

    作業(yè)方法與質(zhì)量

  • C

    技術(shù)結(jié)論

  • D

    計(jì)算成果質(zhì)量與評(píng)價(jià)

  • E

    軟件產(chǎn)品的主要功能和性能

測(cè)繪技術(shù)總結(jié)通常由( )四部分組成。

  • A

    概述

  • B

    技術(shù)設(shè)計(jì)執(zhí)行情況

  • C

    成果質(zhì)量說(shuō)明評(píng)價(jià)

  • D

    上交和歸檔的成果及其資料清單

  • E

    工作目標(biāo)及工作量

對(duì)于測(cè)繪專(zhuān)業(yè)技術(shù)總結(jié)，大地測(cè)量專(zhuān)業(yè)包括以下幾個(gè)方面( )。

  • A

    重力測(cè)量

  • B

    變形測(cè)量

  • C

    大地測(cè)量計(jì)算

  • D

    線(xiàn)路測(cè)量

  • E

    平面控制測(cè)量與高程控制測(cè)量