屬于泊松分布的控制圖為( )。
均值--極差控制圖
中位數(shù)--極差控制圖
不合格品率控制圖
不合格數(shù)控制圖
統(tǒng)計過程控制(SPC)是應(yīng)用( )對過程中的各個階段進行評估和監(jiān)控,建立和保持過程處于可接受的并且穩(wěn)定的水平,從而保證產(chǎn)品與服務(wù)符合規(guī)定要求的一種質(zhì)量管理技術(shù)。
電子技術(shù)
統(tǒng)計技術(shù)
科學(xué)計算
控制技術(shù)
產(chǎn)品的質(zhì)量變異可通過( )。
嚴(yán)格執(zhí)行工藝規(guī)程而完全消除
對員工嚴(yán)格培訓(xùn)而完全消除
全數(shù)質(zhì)量檢驗而完全消除
對過程進行分析而找出其統(tǒng)計規(guī)律性
當(dāng)控制圖的對象為不合格品率或合格率等計數(shù)值質(zhì)量指標(biāo)的場合時,控制圖應(yīng)選( )。
P圖
C圖
u圖
np圖
過程能力的含義是( )。
勞動生產(chǎn)率
過程加工的質(zhì)量能力
過程能力越大越好
過程能力就是公差
休哈特控制圖的實質(zhì)是( )。
消除偶然因素
消除異常因素
區(qū)分偶然因素與異常因素兩類因素
以上都不對
過程能力指數(shù)與產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)系,正確的是( )。
過程能力指數(shù)越高,合格品率越高
過程能力指數(shù)越低,不合格品率越低
過程能力指數(shù)越高,合格品率越低
過程能力指數(shù)越低,合格品率越高
某零件的某種質(zhì)量特性要求為20±0.15,抽樣n=10件,計算得X=20.05,S=0.05, ε=|20-20.O5|=0.05。則Cpk為( )。
1.33
0.67
0.5
0.1
X控制圖主要用于觀察正態(tài)分布的( )的變化,R控制圖用于觀察正態(tài)分布的( )的變化,而X—R控制圖則將二者聯(lián)合運用,用于觀察正態(tài)分布的變化。
均值、波動情況或變異度的變化
波動情況或變異度的變化、均值
產(chǎn)品合格率、誤差的大小
公差的大小、產(chǎn)品合格率
兩個過程能力指數(shù)Cp與Cpk間的關(guān)系是( )
Cp≤Cpk
Cpk≤Cp
Cp/Cpk=1-K
Cp/Cpk=1+K